機房線路終端障礙

如果障礙發(fā)生在終端機房內(nèi)，在障礙端測試時，由于OT-金聯(lián)宇電線DR儀表凈化不出規(guī)整曲線，在對終端測試可以發(fā)現(xiàn)障礙纖芯測試曲線正常。為精確定位，需要加一段能避開儀表盲區(qū)的尾纖，一般長度不少于500m，先精確測出尾纖長度，再接入障礙光纖測試。

部分系統(tǒng)阻斷障礙金聯(lián)宇電線

如果障礙是某一系統(tǒng)障礙，在排除設備故障的前提下，精確調(diào)www.shangry.com整OTDR儀表的折射率、脈寬和波長，使之與被測纖芯的參數(shù)相同，盡可能減少測試誤差。隨后再將測出的距離信息與維護資料核對，看障礙點是否在接頭處。

若通過OTDR曲線觀察障礙點有明顯的菲涅爾反射峰(菲涅爾反射是瑞利散射的特例，它是在光纖的折射率突變時出現(xiàn)的特殊現(xiàn)象)，與資料核對和某一接頭距離較近，可初步判斷為盒內(nèi)光纖障礙(光纖盒內(nèi)斷裂多為鏡面性斷裂，有較大的菲涅爾反射峰)。修復人員到現(xiàn)場后，可先與機房人員進一步判斷，然后進行處理。金聯(lián)宇電線

若障礙點與接頭距離相差較大，則為纜內(nèi)障礙。這類障礙隱蔽性較強，如果定位不準，盲目查找可能會造成不必要的人力和物力浪費，如直埋光纜大量土方開挖、架空光纜摘掛大量的掛鉤等，會延長障礙歷時。這類障礙可采用如下方式精確判定障礙點。金聯(lián)宇電線

用OTDR儀表精確測試障礙點至鄰近接頭點的相對距離(纖長)，將測試的纖長換算成光纜長度(皮長)，再將光纜皮長換算成障礙點的成長尺碼，即可精確定位障礙點位置。具體算法如下：金聯(lián)宇電線

(1)纖長換算成皮長La=(S1-S2)/(1+P)。式中La為光纜皮長；S1為測試的相對距離長度；S2為光纜接頭盒內(nèi)的單側盤留長度，一般取0.6~1.0；P為該光纜的絞縮率，因光纜結構不同而異，可用同型號的備用光纜進行測試，也有廠家提供該項指標。P=(Sa-Sb)/Sb,Sa為單盤光纜的測試纖長；Sb為單盤光纜標記的皮長尺碼長度。金聯(lián)宇電線

(2)光纜障礙點皮長尺碼的計算Ly=Lb±La。式中Ly為障礙點的皮長尺碼值；Lb為鄰近接頭點的盒根光纜皮長尺碼，+、-符號的選擇可以根據(jù)光纜的布放端別確定。確定了Ly的值，即可根據(jù)資料確定障礙點的具體位置。采用這種方法可以減少由于工程資料不準、儀表和光纖的折射率偏差等原因造成的測試誤差，避免長距離核算光纜長度，測試結果較為準確。實踐證明這種方法簡單有效。金聯(lián)宇電線

光纜全阻障礙金聯(lián)宇電線

對于光纜線路全阻障礙，查找較為容易，一般為外力影響所致，可利用OTDR測出障礙點與局(站)間的距離，結合維護資料，確定障礙點的地理位置，指揮巡線人員沿光纜路由查看是否有建設施工、架空光纜是否有明顯的拉傷等，一般可找到障礙點。若無法找到就需要用上面介紹的方法進行精確計算，確定障礙點。

光纖衰耗過大引起的障礙

用OTDR測試系統(tǒng)障礙纖芯，如果發(fā)現(xiàn)障礙是衰耗空變引起的，可基本判定障礙點位于某接頭處，多是由于彎曲損耗造成的。盒內(nèi)余留光纖盤留不當或熱縮管脫落等形成小圈，使余纖的曲率半徑過小。另外，接頭盒進水也可能造成接頭處障礙。打開接頭盒后，可進一步判斷，將正常纖芯繞在手指上，使其曲率半徑過小，此時用OTDR測試(1550nm)該處會有一大衰耗點，若該衰耗點與障礙光纖衰耗位置一致，則障礙點即為該點。然后再仔細查看障礙光纖有無損傷或盤小圈，若有小圈將其放大即可，否則進行重接處理。